深圳市谱赛斯科技有限公司
主营产品:镀层测厚仪,孔铜测厚仪,膜厚仪,表面铜测厚,原子吸收分光光度计,金相切片研
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以下是百度推荐信息
  • 产品展示
产品名称: 日立分析仪器FT150镀层测厚仪
产品编号: 20180822
产品商标: HITACHI
产品规格: 仪器尺寸 930x900x710mm
参考价格: 500000
更新日期: 2018/8/28 11:34:34
被阅次数: 157次
 
  • 详细说明
日立分析仪器FT150镀层测厚仪深圳谱赛斯科技有限公司*代理商,主要经营:日立X射线测厚仪全套系列、铜厚测量仪、X射线管、标准片、切片研磨机、取样机、金相显微镜、阻抗测试仪、剥离强度测试仪,离子污染测试仪、元素分析仪、二次元、三次元、长臂板厚测试仪,线宽测量仪、X光检查机等、原子吸收分光光度计、各种化学实验试剂。

日立分析仪器FT150镀层测厚仪使用新开发的X射线聚光用多毛细管的产品阵容诞生了。另外,以X射线检测结构为中心,对各类元件进行*佳优化,从而大幅提高了检测灵敏度,在不损失检测精度的前提下实现了的高处理能力。并且,对设备进行了重新设计,使得样本室的使用,以及对检测点的检查变得更为容易。

X射线荧光镀层厚度测厚仪 FT150系列 特长

1.显微领域的高精度检测

通过采用新开发的多毛细管,以及对探测器的优化,在实现照射半径等同于旧有型号FT9500X为30 μm(设想FWHM: 17 μm)的基础上,进一步将处理能力提高到了2倍以上。

2.产品阵容适应各类检测样本

针对检测样本的不同种类,可在下列3种型号中进行选择。

测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型号
能够处理尺寸为600 mm×600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型号
适合对陶瓷芯片电极部分中,过去难以同时测量的Sn/Ni两层进行高能测量的型号

3.日立分析仪器FT150镀层测厚仪兼顾易操作性与安全性

放大了开口,同时样本室的门也可单手轻松开闭。从而提高了取出、放入检测样本的操作简便性,并且该密封结构也大大减少了X射线泄漏的风险,让用户放心使用。

4.检测部位可见

通过设置大型观察窗、修改部件布局,使得样本室门在关闭状态下亦可方便地观察检测部位。

5.清晰的样本图像

使用了分辨率比以往更高的样本观察摄像头,采用全数码变焦,从而消除位置偏差,可以清晰地观察数十μm的微小样本。

另外,亦采用LED作为样本观察灯,无需像以往的机型那样对灯泡进行更换。
联系电话:136921144016.新GUI

将各类检测方法、检测样本都以应用程序图标的形式进行了登记。图标皆为检测样本的照片、多层膜的图示等,因此登记、整理起来就很方便,从而使得用户可以不走弯路,直接进行检测。
使用检测向导窗口来指导操作。通过与检测画面联动,逐步引导用户执行当前所需进行的工作。
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