日立FT150系列膜厚仪，是日立旗下上海有限公司日立分析仪器发布了FT150系列镀层测厚仪，添置了新型高分辨率探测器和新型样品台配置。 
日立分析仪器FT150系列膜厚仪系列在电子和金属表面处理行业已有超过40年镀层分析的成功经验。 分析仪器高科技产业，也是*需要拥有核心技术的工业领域。

基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。日立FT150系列膜厚仪采用先开发的X射线聚焦用毛细管，对于宽度小于100um的超小部件或微细半导体走线等，也能以*小X射线照射径30um测量膜厚

PCB / PWB 表面处理
日立FT150系列镀层膜厚测量仪采用密闭型设计，支持*大600x600mm的大型印刷电路板，X射线泄露的风险很小，可以确保用户的安全，新设计的样品室门(采用大开口、大型观察窗）可以方便抽取放和定位大型电路板。新式样品室门采用密闭型机壳和单手开闭辅助功能，兼具安全性和易用性。

控制表面处理工艺的能力决定线路板的品级、可靠性和寿命。根据IPC 4556和IPC 4552测量非电镀镍（EN，NiP）电镀厚度和成分结构。日立分析仪器产品帮助您在严控的范围内持续运营，确保高质量并避免昂贵的返工。
零件必须在规格范围内被电镀，以达到预期的电力、机械及环境性能。 开槽的X-Strata和MAXXI系列产品 ，可以测量小的试片或连续带状样品，从而达到 引线框架（引线框架）、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。

日立分析仪器行业领头者一级代理商深圳谱赛斯科技有限公司，半导体器件越来越小巧而复杂，需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析，及重复性好的数据。专业从事精密仪器设备销售与维护。专注于英国牛津、日立全系列膜厚仪、镀层测厚仪、测厚仪、孔铜测厚仪、面铜测厚仪在国内的销售与维护。我司拥有极为专业销售及维修团队，80%以上人员从事测厚仪行业超过十年。连续十余年为全国各地的PCB、LED、SMD、半导体、连接器、紧固件、汽车、五金等制造厂商及高校、科研机构、质检机构等长期提供快捷、优质的售前、售后服务和技术支持。并获得业界无数好评。